Optical constants and thickness determination of La 2 / 3 Sr 1 / 3 MnO3 thin films on Nb:SrTiO3 substrates by spectro-ellipsometry: Combination of optical and X-ray techniques - GREYC electronique
Article Dans Une Revue Applied Surface Science Année : 2024

Optical constants and thickness determination of La 2 / 3 Sr 1 / 3 MnO3 thin films on Nb:SrTiO3 substrates by spectro-ellipsometry: Combination of optical and X-ray techniques

Domaines

Optique / photonique Science des matériaux [cond-mat.mtrl-sci] Electromagnétisme Physique Numérique [physics.comp-ph] Optique [physics.optics] Micro et nanotechnologies/Microélectronique Matériaux Matériaux
Fichier principal
Vignette du fichier
Article_final_version-2.pdf (2.49 Mo) Télécharger le fichier
Origine Fichiers produits par l'(les) auteur(s)

Laurence Méchin  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-04701288

Soumis le : mercredi 20 novembre 2024-12:15:54

Dernière modification le : jeudi 28 novembre 2024-03:13:35

Télécharger pour visualiser

Dates et versions

hal-04701288 , version 1 (20-11-2024)

Identifiants

Citer

Jérémy Blond, Christian Dufour, Sandeep Kumar Chaluvadi, Sylvain Duprey, Xavier Portier, et al.. Optical constants and thickness determination of La 2 / 3 Sr 1 / 3 MnO3 thin films on Nb:SrTiO3 substrates by spectro-ellipsometry: Combination of optical and X-ray techniques. Applied Surface Science, 2024, 669, pp.160489. ⟨10.1016/j.apsusc.2024.160489⟩. ⟨hal-04701288⟩

Exporter

BibTeX XML-TEI Dublin Core DC Terms EndNote DataCite

Collections

CEA CNRS INSA-ROUEN GREYC GREYC-ELECTRONIQUE NIMPH-CIMAP COMUE-NORMANDIE IRAMIS-CIMAP CEA-UPSAY UNIV-PARIS-SACLAY UNIROUEN ENSICAEN UNICAEN INSA-GROUPE CIMAP IRAMIS
40 Consultations
2 Téléchargements

Altmetric

Partager

More