Diffraction-limited mid-infrared microspectroscopy to reveal a micron-thick interfacial water layer signature - INSU - Institut national des sciences de l'Univers Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Analyst Année : 2023

Diffraction-limited mid-infrared microspectroscopy to reveal a micron-thick interfacial water layer signature

Résumé

The potential of a supercontinuum laser besides synchrotron radiation to conduct high-resolution, diffraction limited FTIR measurements and to record a micron thick interfacial water layer near the solid surface.
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Mozhdehei et al-d3an00138e-.pdf (1.05 Mo) Télécharger le fichier
Origine : Fichiers produits par l'(les) auteur(s)

Dates et versions

insu-04190435 , version 1 (26-10-2023)

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Citer

Armin Mozhdehei, Aneta Slodczyk, Eirik Almklov Magnussen, Achim Kohler, Christophe Sandt, et al.. Diffraction-limited mid-infrared microspectroscopy to reveal a micron-thick interfacial water layer signature. Analyst, 2023, 148 (13), pp.2941-2955. ⟨10.1039/d3an00138e⟩. ⟨insu-04190435⟩
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