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Comparison of NIR to MIR Optical Constants of Polymers for Packaging by Spectroscopic Ellipsometry7th International Conference on Spectroscopic Ellipsometry (ICSE-7), Jun 2016, Berlin, Germany
Conference papers
insu-01314090v1
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Impact of voids in interconnection materialsAbdelkhalak El Hami et Philippe Pougnet. Embedded Mechatronic Systems 2. Analysis of Failures, Modeling, Simulation and Optimization, Elsevier, Chapter 4, 2015, ISBN : 978-1-78548-014-0. ⟨10.1016/B978-1-78548-014-0.50004-9⟩
Book sections
insu-01154803v1
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Non-Destructive Characterization by Spectroscopic Ellipsometry of Interfaces in Mechatronic DevicesAbdelkhalak El Hami et Philippe Pougnet. Embedded Mechatronic Systems 1. Analysis of Failures, Predictive Reliability, Elsevier, Chapter 2, 2015, 978-1-78548-013-3. ⟨10.1016/B978-1-78548-013-3.50002-4⟩
Book sections
insu-01155342v1
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Investigating Substrate Effect on the Optical Properties of Thick Polymers by Spectroscopic Ellipsometry7th International Conference on Spectroscopic Ellipsometry (ICSE-7), Jun 2016, Berlin, Germany
Conference papers
insu-01314097v1
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Ellipsométrie spectroscopique des interfacesAbdelkhalak El Hami et Philippe Pougnet. Les systèmes mécatroniques embarqués 1. Analyse des causes de défaillances, fiabilité et contraintes, 1, ISTE editions, Chapitre 2, pp. 41-67, 2015, Collection: Génie mécanique et mécanique des solides, 978-1-78405-057-3
Book sections
hal-01113902v1
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Effet de défauts lacunaires dans les matériaux d’interconnexionAbdelkhalak El Hami et Philippe Pougnet. Les systèmes mécatroniques embarqués 2. Analyse des causes de défaillances, modélisation, simulation et optimisation, 2, ISTE éditions, Chapitre 4, pp. 99-122, 2015, Collection: Génie mécanique et mécanique des solides, 978-1-78405-059-7
Book sections
hal-01114117v1
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