Chapitre D'ouvrage
Année : 2015
Catherine Cardon : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://insu.hal.science/insu-01155286
Soumis le : mardi 26 mai 2015-13:57:15
Dernière modification le : lundi 2 décembre 2024-14:48:12
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : insu-01155286 , version 1
Citer
Philippe Pougnet, Franck Bayle, Hichame Maanane, Pierre-Richard Dahoo. Reliability Prediction of embedded Electronic Systems: The FIDES Guide. Abdelkhalak El Hami et Philippe Pougnet. Embedded Mechatronic Systems 1. Analysis of Failures, Predictive Reliability, Elsevier, Chapter 8, 2015, 978-1-78548-013-3. ⟨insu-01155286⟩
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