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Année : 2016
Catherine Cardon : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://insu.hal.science/insu-01333788
Soumis le : dimanche 19 juin 2016-15:13:25
Dernière modification le : vendredi 22 décembre 2023-15:16:05
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : insu-01333788 , version 1
Citer
Pierre-Richard Dahoo, Philippe Pougnet, Abdelkhalak El-Hami. Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light. ISTE Editions, 200 p., 2016, 10 1848219369. ⟨insu-01333788⟩
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